美国专利:一种杂物探测装置

2007-10-18来源:烟业通讯
    美国《烟业通讯》介绍了一种杂物探测装置,以及探测物料中杂物的方法,其中,红外线或多束特定波长的红外线投射到在输送机的物料上,测量被物料反射的特定波长的红外光束的强度,所测的强度与物料固有的波长的反射强度进行比较,根据比较结果探测物料中的杂物。

    美国专利,US7227148
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